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曉INSIGHT 鍍層分析儀是一款上照式鍍層分析儀，具有外觀緊湊、節約空間、易于操作、分析快速、檢測精準等特點，被廣泛應用于常規和復雜鍍層結構的樣品進行元素分析和厚度檢測，尤其是對不均勻、不規則，甚至微小件等形態的樣品，確保客戶獲得可靠、可重復結果以滿足數百種應用，包括：珠寶首飾、小零件、連接器鍍層、普通電路板等。
使用優勢
多準直器可選或多種準直器組合由軟件自動切換，可靈活應對不同尺寸的零件。
配備直觀而智能的分析軟件，操作簡單，任何人無需培訓都可以測試樣品，僅僅需要點擊“開始測試”，數十秒即可獲得檢測結果啦。
高低大小樣品可快速清晰對焦，視頻圖像可放大、含十字線、自動聚焦。
儀器殼體的開槽設計（C型槽）使得測量空間寬大，樣品放置便捷，可以測量如印刷線路板類大而平整的物品，也可以放置形狀復雜的大樣品。
X射線熒光是無損分析過程，不留任何痕跡，即使是對敏感性材料，其測量也是非常安全的。
選用適合于多元素鍍層的高靈敏度的半導體探測器，比起傳統的封氣正比計數器，半導體探測器具有更佳分辨率、更低的背景噪聲（最高 S/N 比）長期穩定性以及更長的使用壽命。
可選配固定或電動型自動平臺，并且可編程以適應廣泛的零件尺寸和測試量。固定樣品臺足以對易于定位檢測面積的電路板上一個或幾個位置進行點檢。用戶可以使用固定樣品臺手動定位樣品，但是對于具有復雜設計和極小特征的電路板，在電動樣品臺上的處理效果會更好，這種樣品臺可提供更好的精確度來進行微調。此外，INSIGHT還允許創建、保存和調用多點程序，以便對多個部件進行自動化測試。可編程 XY 載物臺與內置模式識別軟件相結合，使大容量樣品測試既高效又一致。
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